Rauheitsmessung: Theorie und Praxis

DIN e. V.; Raimund Volk

doi:10.5771/9783410275503

Zusammenfassung

Der Beuth-Praxis-Band "Rauheitsmessung" hat sich als praxisorientierte Einführung in die Oberflächenmesstechnik bewährt. Das jetzt in dritter Auflage vorliegende Werk wurde unter Berücksichtigung des aktuellen Stands der GPS-Normung überarbeitet. Der Autor erläutert in anschaulicher Form die Anforderungen an moderne Rauheitsmessgeräte, gibt Hinweise zum richtigen Einsatz in der Praxis und interpretiert die Messergebnisse der einschlägigen nationalen und internationalen Normen. Sachkundige, leicht verständlich geschriebene Kommentare machen den Zusammenhang zwischen den verschiedenen Normen zur Oberflächenbeschaffenheit deutlich. Gleichzeitig gibt der Autor einen ersten Ausblick auf die derzeit laufende Entwicklung von internationalen Normen, die für eine bessere Übersichtlichkeit sorgen sollen.

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Bibliographische Angaben

Auflage: 3/2018
Copyrightjahr: 2018
ISBN-Print: 978-3-410-27549-7
ISBN-Online: 978-3-410-27550-3
Verlag: DIN Media, Berlin
Reihe: DIN Media Praxis
Sprache: Deutsch
Seiten: 204
Produkttyp: Sammelband

Inhaltsverzeichnis

KapitelSeiten

1. Über den Autor Kein Zugriff
2. Vorwort Kein Zugriff
3. Inhalt Kein Zugriff
1 Einführung Kein Zugriff Seiten 1 - 2
1. 2.1 Funktion einer Oberfläche Kein Zugriff
2. 2.2 Einfluss des Fertigungsverfahrens Kein Zugriff
3. 2.3 Prüfmittel für die Oberflächenrauheit Kein Zugriff
4. 2.4 Herstellung von Oberflächen Kein Zugriff
5. 2.5 Die Oberfläche als komplexes Gebilde Kein Zugriff
6. 2.6 Unterscheidung von Oberflächenunregelmäßigkeiten Kein Zugriff
1. 1. 3.1.1 Wichtige aktuelle Kenngrößen Kein Zugriff
  2. 3.1.2 Neue Kenngrößen Kein Zugriff
  3. 3.1.3 Weniger gebräuchliche Kenngrößen Kein Zugriff
2. 3.2 Verwechslungsgefahren Kein Zugriff
3. 3.3 Übersicht über die Kenngrößen Kein Zugriff
4. 1. 3.4.1 Ra – Arithmetischer Mittenrauwert Kein Zugriff
  2. 3.4.2 Rq – Quadratischer Mittenrauwert Kein Zugriff
  3. 3.4.3 Rz – Gemittelte Rautiefe; Rmax – Maximale Rautiefe Kein Zugriff
  4. 3.4.4 R3z – Grundrautiefe Kein Zugriff
  5. 3.4.5 Rz(ISO) – Zehnpunktehöhe; Ry – Maximale Rautiefe (alt) Kein Zugriff
  6. 3.4.6 Rp – Mittlere Glättungstiefe; Rv – Mittlere Riefentiefe Kein Zugriff
5. 1. 3.5.1 Wt – Wellentiefe Kein Zugriff
  2. 3.5.2 WDSm – Dominante Wellenlänge Kein Zugriff
6. 1. 3.6.1 Pt – Profiltiefe Kein Zugriff
7. 1. 3.7.1 RPc – Normierte Spitzenzahl; D – Dichte Kein Zugriff
  2. 3.7.2 RSm – Mittlerer Rillenabstand Kein Zugriff
8. 1. 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) – Materialanteil des Profils Kein Zugriff
  2. 3.8.2 Rk – Kernrautiefe; Rpk – Reduzierte Spitzenhöhe; Rvk – Reduzierte Riefentiefe; Mr1 – Kleinster Materialanteil; Mr2 – Größter Materialanteil Kein Zugriff
  3. 3.8.3 RΔq – Quadratischer Mittelwert der Profilsteigung Kein Zugriff
  4. 3.8.4 L0 – Gestreckte Länge des Profils (nicht genormt) Kein Zugriff
  5. 3.8.5 LR – Profillängenverhältnis Kein Zugriff
9. 1. R – Mittlere Tiefe der Rauheitsmotifs Kein Zugriff
  2. Rx – Maximale Tiefe der Profilunregelmäßigkeit Kein Zugriff
  3. W – Mittlere Tiefe der Welligkeitsmotifs Kein Zugriff
  4. Wx – Maximale Tiefe der Welligkeitsmotifs Kein Zugriff
  5. AR – Mittlere Teilung der Rauheitsmotifs Kein Zugriff
  6. AW – Mittlere Länge der Welligkeitsmotifs Kein Zugriff
  7. Wte – Gesamttiefe der Welligkeit Kein Zugriff
10. 1. 3.10.1 Die Oberfläche aus statistischer Sicht Kein Zugriff
  2. 3.10.2 Rsk – Schiefe des Profils Kein Zugriff
  3. 3.10.3 Rku – Steilheit des Profils Kein Zugriff
  4. 3.10.4 AKF – Die Autokorrelationsfunktion Kein Zugriff
  5. 3.10.5 Fourier-Analyse (nicht genormt) Kein Zugriff
11. 1. 3.11.1 Drall-Kenngrößen Kein Zugriff
1. 4.1 Oberflächenvergleichsmuster Kein Zugriff
2. 1. 4.2.1 Normen zu Tastschnittgeräten Kein Zugriff
  2. 4.2.2 Taster Kein Zugriff
  3. 4.2.3 Vorschubapparat Kein Zugriff
  4. 4.2.4 Computer Kein Zugriff
  5. 4.2.5 Anzeige Kein Zugriff
  6. 4.2.6 Dokumentation Kein Zugriff
3. 1. 4.3.1 Weißlichtsensor Kein Zugriff
  2. 4.3.2 Alternative Verfahren Kein Zugriff
1. 1. 5.1.1 Einstellung der Taststrecke Kein Zugriff
  2. 5.1.2 Wahl der Grenzwellenlänge des Filters Kein Zugriff
  3. 5.1.3 Formabweichungen eliminieren Kein Zugriff
  4. 5.1.4 Ausrichten des Profils Kein Zugriff
2. 5.2 Güteklassen Kein Zugriff
3. 1. 5.3.1 Kalibrierlaboratorien Kein Zugriff
4. 1. 5.4.1 Gleitkufentaster Kein Zugriff
  2. 5.4.2 Vorschubapparat an Säulen Kein Zugriff
  3. 5.4.3 Messtische mit Schwingungsdämpfung Kein Zugriff
5. 5.5 Temperatur Kein Zugriff
6. 5.6 Einfluss von Zugluft Kein Zugriff
7. 5.7 Beschädigungen am Werkstück Kein Zugriff
8. 5.8 Sauberkeit Kein Zugriff
9. 5.9 Einfluss von Magnetismus Kein Zugriff
10. 5.10 Oberflächenabdrücke Kein Zugriff
11. 1. 5.11.1 „16%-Regel“ Kein Zugriff
  2. 5.11.2 „Höchstwert-Regel“ Kein Zugriff
12. 5.12 Statistische Prozesskontrolle SPC Kein Zugriff
1. 6.1 Die Grenzwellenlänge des Filters λc Kein Zugriff
2. 6.2 Gaußfilter nach DIN EN ISO 16610-21:2013-06 Kein Zugriff
3. 6.3 Analoge Filter (2RC-Filter) Kein Zugriff
4. 6.4 Sonderfilter nach Normenreihe DIN EN ISO 13565 (Rk) Kein Zugriff
1. 1. 7.1.1 Mathematisches Modell Kein Zugriff
  2. 7.1.2 Filterfaktor c Kein Zugriff
  3. 7.1.3 Unsicherheit der gemittelten Rautiefe Rz Kein Zugriff
2. 1. 7.2.1 Vorschub und Schwingungsisolierung Kein Zugriff
  2. 7.2.2 Tastsystem Kein Zugriff
  3. 7.2.3 Unbekannte systematische Abweichungen Kein Zugriff
  4. 7.2.4 Streuung der Messwerte s(Rz) Kein Zugriff
3. 7.3 Messunsicherheitsbudget Kein Zugriff
1. 1. 8.1.1 Symbole für die Oberflächenbeschaffenheit Kein Zugriff
  2. 8.1.2 Oberflächenbeschaffenheit am vollständigen Symbol Kein Zugriff
  3. 8.1.3 Bearbeitungsverfahren Kein Zugriff
  4. 8.1.4 Übertragungscharakteristik und Einzelmessstrecke Kein Zugriff
  5. 8.1.5 Oberflächenrillenrichtung Kein Zugriff
  6. 8.1.6 Bearbeitungszugabe Kein Zugriff
  7. 8.1.7 Lage und Ausrichtung der Symbole Kein Zugriff
  8. 8.1.8 Vereinfachte Zeichnungseintragung Kein Zugriff
  9. 8.1.9 Ausblick ISO 21920 – Zeichnungseintragungen Kein Zugriff
1. 1. 9.1.1 Entwicklung Kein Zugriff
  2. 9.1.2 Konstruktion Kein Zugriff
  3. 9.1.3 Fertigung Kein Zugriff
  4. 9.1.4 Qualitätsprüfung Kein Zugriff
2. 1. 9.2.1 ISO 21920 Profilnorm Kein Zugriff
  2. 9.2.2 Neue Filterverfahren Kein Zugriff
  3. 9.2.3 Unterschiedliche Interpretationen beim Rmax und Rz1max Kein Zugriff
3. 9.3 Anleitungen zur Ermittlung der Messunsicherheit Kein Zugriff
4. 9.4 Normen und Richtlinien aus angrenzenden Bereichen Kein Zugriff
1. 10.1 Entwicklung der Oberflächenmesstechnik Kein Zugriff
2. 1. 10.2.1 Bodschwinna; Hillmann (1992) Kein Zugriff
  2. 10.2.2 Whitehouse (1994) Kein Zugriff
  3. 10.2.3 Thomas (1999) Kein Zugriff
  4. 10.2.4 Leach (2013) Kein Zugriff
Abkürzungsverzeichnis Kein Zugriff Seiten 184 - 187
Stichwortverzeichnis Kein Zugriff Seiten 188 - 190

Rauheitsmessung

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