Erhöhung der Elektromigrationsrobustheit in der Verdrahtung digitaler Schaltungen

Steve Bigalke

doi:10.51202/9783186472205

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Bibliographic data

Copyright year: 2020
ISBN-Print: 978-3-18-347220-8
ISBN-Online: 978-3-18-647220-5
Publisher: VDI Verlag, Düsseldorf
Series: Rechnerunterstützte Verfahren
Volume: 472
Language: German
Pages: 164
Product type: Book Titles

Titelei/Inhaltsverzeichnis Partial access Pages I - XIV Download chapter (PDF)
1. Trend zur Verkleinerung der IC-Strukturen No access
2. EM-Bedrohung für die Zuverlässigkeit der Leiterbahnen No access
3. Kompensation der EM in den Leiterbahnen No access
1. 1. Kräfte am Atom No access
  2. Migration entlang von Pfaden No access
  3. Beschreibung des Teilchenflusses No access
  4. Bezug zur Diffusionsgleichung No access
  5. Entstehung von EM-induziertem Stress No access
  6. Weitere Abhängigkeiten und Einflussfaktoren der EM No access
  7. Bedeutung des Herstellungsverfahrens No access
2. 1. Modell der Selbstheilung No access
  2. Frequenzabhängigkeit No access
  3. Lage der Fehlstellen No access
3. 1. Unterschiede zwischen den Modellen No access
  2. Abschätzung der mittleren Lebensdauer No access
  3. EM-Kompensation beim Blech-Effekt No access
  4. Berechnung der Stressentwicklung No access
  5. Nummerische Lösung mittels FEM No access
4. 1. Einsatz neuer Werkstoffe No access
  2. Einbringung von Reservoiren No access
  3. Ausnutzung des Blech-Effektes No access
  4. Einbringung von Vias No access
  5. Verbreiterung der Leiterbahnen No access
  6. Ausnutzung des Bambuseffektes No access
  7. Reduzierung der Temperatur No access
5. 1. Ablauf einer Verdrahtung von Signalnetzen No access
  2. Berücksichtigung von EM bei der Verdrahtung No access
Zielstellung der Arbeit No access Pages 39 - 42
1. Anforderung an die Modellierung No access
2. 1. Integrierung in den Entwurfsablauf No access
  2. Diskretisierung der Leiterbahnen No access
  3. Einbringung der Randbedingungen No access
  4. Implementierung des Ablaufes No access
  5. Verifikation des Modells No access
  6. Stressergebnisse im Layout No access
3. 1. Abschätzung der Ströme No access
  2. Abbildung von Verdrahtungsstrukturen No access
  3. Verifikation der Layoutanalyse No access
  4. Laufzeitergebnisse im Layout No access
4. Zusammenfassung No access
1. Einordnung der Maßnahmen No access
2. 1. Ansatz No access
  2. Ergebnisse No access
3. 1. Ansatz No access
  2. Ergebnisse No access
4. 1. Lage No access
  2. Länge No access
  3. Ergebnisse No access
5. 1. Ansatz No access
  2. Ablauf No access
  3. Ergebnisse No access
6. 1. Ansatz No access
  2. Ergebnisse No access
7. 1. Ansatz No access
  2. Ergebnisse No access
8. Ausnutzung von Via-Below-Konfigurationen No access
9. Einbringung von Lower-Lead-Konfigurationen No access
10. Zusammenfassung No access
1. Schritte der EM-robusten Verdrahtung No access
2. 1. Auswahl des Verdrahtungskonzeptes No access
  2. Ermittlung der Verdrahtungsressourcen No access
  3. Abbildung des Detailverdrahtungsgraphen No access
  4. Zuweisung und Reservierung von Knoten No access
  5. Wegsuche mit dem A*-Algorithmus No access
  6. Lösen von Verdrahtungskonflikten No access
3. 1. Änderung der Netzreihenfolge No access
  2. Verbesserung der Netztopologie No access
  3. Begrenzung der Leiterbahnlänge No access
  4. Verbreiterung des Leiterbahnquerschnittes No access
  5. Einbringung von Reservoiren No access
  6. Einsatz von redundanten Vias No access
4. 1. Verdrahtung von Signalnetzen No access
  2. Einsatz von redundanten Vias No access
5. 1. Änderung der Netzreihenfolge No access
  2. Verbesserung der Netztopologie No access
  3. Begrenzung der Leiterbahnlänge No access
  4. Verbreiterung des Leiterbahnquerschnittes No access
  5. Einbringung von Reservoiren No access
  6. Einsatz von redundanten Vias No access
  7. Bewertung der Ergebnisse No access
6. Zusammenfassung No access
1. Gesamtzusammenfassung und Schlussfolgerung No access
2. Ausblick No access
Glossar No access Pages 143 - 144
Index No access Pages 145 - 146
Literatur No access Pages 147 - 164