Surface texture: Theory and practical use

DIN e. V.; Raimund Volk

doi:10.5771/9783410298144

Zusammenfassung

This book was written for the practitioner with the aim of presenting characteristics and methods of roughness measurement in an easily understandable form. Definitions of the surface parameters can be found in the relevant standards. Older parameters are also explained, to the extent that they still have a worthwhile meaning today. In practice, it is quite common to leave the entries in the drawings unchanged over the entire life cycle of a product. This is based on the valid ISO standards. This guide "Surface texture - Theory and practical use" is intended to explain the different roughness parameters and make it easier for the designer to specify surface parameters.

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Bibliographische Angaben

Auflage: 1/2020
Copyrightjahr: 2020
ISBN-Print: 978-3-410-29813-7
ISBN-Online: 978-3-410-29814-4
Verlag: DIN Media, Berlin
Reihe: DIN_Handbook
Sprache: Deutsch
Seiten: 200
Produkttyp: Sammelband

Inhaltsverzeichnis

KapitelSeiten

1. About the author Kein Zugriff
2. Foreword Kein Zugriff
3. Contents Kein Zugriff
1 Introduction Kein Zugriff Seiten 1 - 2
1. 2.1 Function of a surface Kein Zugriff
2. 2.2 Influence of the manufacturing process Kein Zugriff
3. 2.3 Testing means for surface roughness Kein Zugriff
4. 2.4 Production of surface Kein Zugriff
5. 2.5 The surface as a complex structure Kein Zugriff
6. 2.6 Differentiation of surface irregularities Kein Zugriff
1. 1. 3.1.1 Important current parameters Kein Zugriff
  2. 3.1.2 New surface parameters Kein Zugriff
  3. 3.1.3 Less common parameters Kein Zugriff
2. 3.2 Danger of confusion Kein Zugriff
3. 3.3 Overview of the parameters Kein Zugriff
4. 1. 3.4.1 Ra – Arithmetic mean deviation of the assessed profile Kein Zugriff
  2. 3.4.2 Rq – r.m.s. deviation of the assessed profile Kein Zugriff
  3. 3.4.3 Rz – Surface roughness; Rmax – Maximum height of profile Kein Zugriff
  4. 3.4.4 R3z – Variant of the surface parameter Rz Kein Zugriff
  5. 3.4.5 Rz(ISO) – Ten point height of irregularities; Ry – Maximum peak-to-dale height (old) Kein Zugriff
  6. 3.4.6 Rp – Mean width of profile dale depths; Rv – Dale depths Kein Zugriff
5. 1. 3.5.1 Wt – Total height of profile Kein Zugriff
  2. 3.5.2 WDSm – Dominant wavelengths Kein Zugriff
6. 1. 3.6.1 Pt – Total height of profile Kein Zugriff
7. 1. 3.7.1 RPc – Peak count number; D – Density Kein Zugriff
  2. 3.7.2 RSm – Mean value of the profile element widths Kein Zugriff
8. 1. 3.8.1 Rmr(c), Pmr(c) – Material ratio of the profile Kein Zugriff
  2. 3.8.2 Rk – Roughness core profile; Rpk – Reduced peak height; Rvk – Reduced dale depths; Mr1 – Smallest material ration; Mr2 – Largest material ratio Kein Zugriff
  3. 3.8.3 RΔq – Root mean square slope of the assessed profile Kein Zugriff
  4. 3.8.4 L0 – Stretched profile length (not standardized) Kein Zugriff
  5. 3.8.5 LR – Profile length ratio Kein Zugriff
9. 1. R – Mean depth of roughness motifs Kein Zugriff
  2. Rx – Maximum depth of profile irregularity Kein Zugriff
  3. W – Mean depth of waviness motifs Kein Zugriff
  4. Wx – Maximum depth of waviness Kein Zugriff
  5. AR – Mean spacing of roughness motifs Kein Zugriff
  6. AW – Mean spacing of waviness motifs Kein Zugriff
  7. Wte – Total depth of waviness Kein Zugriff
10. 1. 3.10.1 The surface from a statistical point of view Kein Zugriff
  2. 3.10.2 Rsk – Skewness of the profile Kein Zugriff
  3. 3.10.3 Rku – Kurtosis of the profile Kein Zugriff
  4. 3.10.4 ACF – The autocorrelation function Kein Zugriff
  5. 3.10.5 Fourier analysis (not standardized) Kein Zugriff
11. 1. 3.11.1 Twist parameters Kein Zugriff
1. 4.1 Surface comparison patterns Kein Zugriff
2. 1. 4.2.1 Standards for stylus instruments Kein Zugriff
  2. 4.2.2 Pick-up Kein Zugriff
  3. 4.2.3 Feed unit Kein Zugriff
  4. 4.2.4 Computer Kein Zugriff
  5. 4.2.5 Display Kein Zugriff
  6. 4.2.6 Documentation Kein Zugriff
3. 1. 4.3.1 White light sensor Kein Zugriff
  2. 4.3.2 Alternative methods Kein Zugriff
1. 1. 5.1.1 Setting the traversing length Kein Zugriff
  2. 5.1.2 Selection of the cut-off wavelength of the filter Kein Zugriff
  3. 5.1.3 Eliminate form deviations Kein Zugriff
  4. 5.1.4 Profile alignment Kein Zugriff
2. 5.2 Quality classification Kein Zugriff
3. 1. 5.3.1 Calibration laboratories Kein Zugriff
4. 1. 5.4.1 Skid pick-ups Kein Zugriff
  2. 5.4.2 Feed units on measuring columns Kein Zugriff
  3. 5.4.3 Measuring tables with vibration damping Kein Zugriff
5. 5.5 Temperature Kein Zugriff
6. 5.6 Influence of draughts Kein Zugriff
7. 5.7 Damage to the work piece Kein Zugriff
8. 5.8 Cleanliness Kein Zugriff
9. 5.9 Influence of magnetism Kein Zugriff
10. 5.10 Surface replica Kein Zugriff
11. 1. 5.11.1 “16 % rule” Kein Zugriff
  2. 5.11.2 “Maximum value rule” Kein Zugriff
12. 5.12 Statistical Process Control SPC Kein Zugriff
1. 6.1 The cut-off wavelength of the filter λc Kein Zugriff
2. 6.2 Gaussian filter according to DIN EN ISO 16610-21:2013-06 Kein Zugriff
3. 6.3 Analogue Filters (2RC-Filter) Kein Zugriff
4. 6.4 Special filter according to DIN EN ISO 13565 (Rk) Kein Zugriff
1. 1. 7.1.1 Mathematical Model Kein Zugriff
  2. 7.1.2 Filterfactor c Kein Zugriff
  3. 7.1.3 Uncertainty of the average peak-to-dale height Rz Kein Zugriff
2. 1. 7.2.1 Feed unit and vibration isolation Kein Zugriff
  2. 7.2.2 Pick-up Kein Zugriff
  3. 7.2.3 Unknown systematic deviations Kein Zugriff
  4. 7.2.4 Scattering of the measured values s(Rz) Kein Zugriff
3. 7.3 Measurement uncertainty budget Kein Zugriff
1. 1. 8.1.1 Symbols for the surface texture Kein Zugriff
  2. 8.1.2 Surface finish of the complete symbol Kein Zugriff
  3. 8.1.3 Machining method Kein Zugriff
  4. 8.1.4 Transmission characteristics and sampling length Kein Zugriff
  5. 8.1.5 Surface dale direction Kein Zugriff
  6. 8.1.6 Machining allowance Kein Zugriff
  7. 8.1.7 Position and orientation of symbols Kein Zugriff
  8. 8.1.8 Simplified drawing entry Kein Zugriff
  9. 8.1.9 Outlook ISO 21920 – Drawing entries Kein Zugriff
1. 1. 9.1.1 Development Kein Zugriff
  2. 9.1.2 Construction Kein Zugriff
  3. 9.1.3 Manufacturing Kein Zugriff
  4. 9.1.4 Quality inspection Kein Zugriff
2. 1. 9.2.1 ISO 21920 profile standard Kein Zugriff
  2. 9.2.2 New filter processes Kein Zugriff
  3. 9.2.3 Different interpretations for Rmax and Rz1max Kein Zugriff
3. 9.3 Instructions for determining the measurement uncertainty Kein Zugriff
4. 9.4 Standards and guidelines from related areas Kein Zugriff
1. 10.1 Development of surface metrology Kein Zugriff
2. 1. 10.2.1 Bodschwinna; Hillmann (1992) Kein Zugriff
  2. 10.2.2 Whitehouse (1994) Kein Zugriff
  3. 10.2.3 Thomas (1999) Kein Zugriff
  4. 10.2.4 Leach (2013) Kein Zugriff
List of abbreviations Kein Zugriff Seiten 180 - 183
Subject index Kein Zugriff Seiten 184 - 186

Surface texture

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