Automatischer Test für Photonik-Komponenten

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Cover der Ausgabe: Konstruktion Jahrgang 68 (2016), Heft S2
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Organ der VDI-Gesellschaften Produkt- und Prozessgestaltung (VDI-GPP) und Materials Engineering (VDI-GME)

Jahrgang 68 (2016), Heft S2


Autor:innen:
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Verlag
VDI fachmedien, Düsseldorf
Erscheinungsjahr
2016
ISSN-Online
0720-5953
ISSN-Print
0720-5953

Kapitelinformationen


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Jahrgang 68 (2016), Heft S2

Automatischer Test für Photonik-Komponenten


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ISSN-Print
0720-5953
ISSN-Online
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Die Siliziumphotonik sorgt für Tempo auf der Datenautobahn aus Glasfasern. Cloud-Computing, Serverfarmen, Big Data, schnelle Internetzugänge sowie viele andere computergestützte Dienste, die hohe Übertragungsgeschwindigkeiten verlangen, profitieren von Datenraten in der Größenordnung von TBit/s. Bei Fertigung und Test von Chips mit optischer Datenübertragung gilt es jedoch, viele Herausforderungen zu meistern. Automatisierte Lösungen müssen unter industriellen Bedingungen zuverlässig funktionieren und rund um die Uhr mit großer Genauigkeit arbeiten. Gleichzeitig sind auch noch individuelle Lösungen gefragt, da die Wafer recht unterschiedliche Anforderungen an Test- und Fertigungseinrichtungen stellen können.

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