Automatischer Test für Photonik-Komponenten
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Bibliographische Infos

Organ der VDI-Gesellschaften Produkt- und Prozessgestaltung (VDI-GPP) und Materials Engineering (VDI-GME)
Jahrgang 68 (2016), Heft S2
- Autor:innen:
- , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , , ,
- Verlag
- VDI fachmedien, Düsseldorf
- Erscheinungsjahr
- 2016
- ISSN-Online
- 0720-5953
- ISSN-Print
- 0720-5953
Kapitelinformationen
Jahrgang 68 (2016), Heft S2
Automatischer Test für Photonik-Komponenten
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- ISSN-Print
- 0720-5953
- ISSN-Online
- 0720-5953
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Die Siliziumphotonik sorgt für Tempo auf der Datenautobahn aus Glasfasern. Cloud-Computing, Serverfarmen, Big Data, schnelle Internetzugänge sowie viele andere computergestützte Dienste, die hohe Übertragungsgeschwindigkeiten verlangen, profitieren von Datenraten in der Größenordnung von TBit/s. Bei Fertigung und Test von Chips mit optischer Datenübertragung gilt es jedoch, viele Herausforderungen zu meistern. Automatisierte Lösungen müssen unter industriellen Bedingungen zuverlässig funktionieren und rund um die Uhr mit großer Genauigkeit arbeiten. Gleichzeitig sind auch noch individuelle Lösungen gefragt, da die Wafer recht unterschiedliche Anforderungen an Test- und Fertigungseinrichtungen stellen können.