@book{2020:bigalke:erhhung_,
title = {Erhöhung der Elektromigrationsrobustheit in der Verdrahtung digitaler Schaltungen},
year = {2020},
note = {Studien zur zukünftigen IC-Entwicklung sagen einvernehmlich
voraus, dass die Zuverlässigkeit zukünftiger integrierter
Schaltungen (ICs) stark durch das Auftreten von Elektromigration (EM)
gefährdet ist. Ursache ist die anhaltende Strukturverkleinerung im
IC, welche nicht nur zur Erhö- hung der EM-Gefahr, sondern auch zur
gleichzeitigen Abnahme der EM-Grenzwerte führt. Digitale Schaltungen
sind auch gefährdet, da sie bisher bei der EM-Berücksichtigung
vernachlässigt wurden, sodass geeignete Gegenmaßnahmen fehlen. Aus
diesem Grund muss ein Paradigmenwechsel im Layoutentwurf vollzogen
werden, welcher das traditionell nach der Layouterstellung
stattfndende Verifzieren der EM-Robustheit durch einen proaktiven
EM-robusten Layoutentwurf ersetzt. Ziel dieser Arbeit ist es, die
dafür notwendigen Neuentwicklungen in der Verdrahtung digitaler
Schaltungen vorzustellen. Das umfasst den Aufbau eines EM-Modells,ein
daraus Ableiten von EM-Maßnahmen und ein Berücksichtigen dieser
Gegenma},
edition = {1},
publisher = {VDI Verlag},
address = {Düsseldorf},
series = {Rechnerunterstützte Verfahren},
volume = {472},
author = {Bigalke, Steve}
}